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| Standard Code | Standard Title | Standard Class | Order |
|---|---|---|---|
| GB/T 4937.2-2006 |
Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压 |
China National Standards devices―Mechanical |
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| GB/T 4937.1-2006 |
Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则 |
China National Standards devices―Mechanical |
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